TWS無(wú)線藍(lán)牙耳機(jī)，無(wú)論是體積還是輕便性都發(fā)生了巨大的改變。無(wú)線藍(lán)牙耳機(jī)作為消費(fèi)者喜愛(ài)的輕便耳機(jī)，其音質(zhì)也有了很大的提升。

如今，款式新穎的無(wú)線藍(lán)牙耳機(jī)內(nèi)部裝配著麥克風(fēng)、振膜、電池、充電觸點(diǎn)、線路板等零件，需精密地進(jìn)行空間裝配，外殼的精度要求高。

藍(lán)牙耳機(jī)外殼還需測(cè)量揚(yáng)聲器口入耳角度、出聲口大小、硅膠塞卡槽等尺寸參數(shù)，數(shù)據(jù)影響著耳機(jī)與耳道的契合度，佩戴舒適性以及用戶體驗(yàn)，所以藍(lán)牙耳機(jī)外殼需要進(jìn)行外觀尺寸測(cè)量。

藍(lán)牙無(wú)線耳機(jī)配有充電盒，可以收納耳機(jī)并給耳機(jī)充電，深受用戶的青睞。TWS耳機(jī)充電倉(cāng)尺寸輪廓需適配耳機(jī)，需對(duì)上蓋、下蓋內(nèi)側(cè)外殼、外部按鍵圓孔尺寸進(jìn)行檢測(cè)，這樣才能實(shí)現(xiàn)嚴(yán)絲合縫。

藍(lán)光掃描  精準(zhǔn)制勝

新拓三維為客戶提供了“另辟蹊徑”的小幅面藍(lán)光三維掃描測(cè)量解決方案，相較于一般接觸式測(cè)量，無(wú)需接觸不會(huì)導(dǎo)致外殼留下劃痕，特別適用于小尺寸、不規(guī)則形狀外殼進(jìn)行測(cè)量，精準(zhǔn)獲取全尺寸數(shù)據(jù)，可以快速解決復(fù)雜的測(cè)量難題。

采用新拓三維XTOM小幅面藍(lán)光三維掃描儀，小幅面精細(xì)掃描更聚焦于小型精密零件曲面輪廓特征，多種拼接方式，可高精度掃描獲取無(wú)線藍(lán)牙耳機(jī)結(jié)構(gòu)外殼的三維數(shù)據(jù)，操作簡(jiǎn)單方便。

輪廓特征測(cè)量 控制誤差

XTOM小幅面結(jié)構(gòu)光三維掃描儀，采用藍(lán)光光柵技術(shù)，非接觸式光學(xué)3D光柵條紋投影測(cè)量，特別適用于復(fù)雜結(jié)構(gòu)件的掃描測(cè)量。它可以捕獲物體表面的藍(lán)光條紋，并由兩個(gè)高精度工業(yè)相機(jī)提供清晰的分辨率。

由于耳機(jī)產(chǎn)品結(jié)構(gòu)件屬于尺寸小、結(jié)構(gòu)特征復(fù)雜的零部件，無(wú)法完全在模型上貼點(diǎn)，為了提升拼接的數(shù)據(jù)質(zhì)量，采用夾具借助背景標(biāo)志點(diǎn)實(shí)現(xiàn)拼接，實(shí)時(shí)全局拼接修正算法，控制誤差積累，提升掃描數(shù)據(jù)質(zhì)量和精度。

1、耳機(jī)外殼尺寸檢測(cè)

XTOM小幅面結(jié)構(gòu)光三維掃描儀利用藍(lán)光光源可縮短測(cè)量時(shí)間，并在圖像采集過(guò)程中濾除環(huán)境光的干擾。

通過(guò)小幅面三維掃描技術(shù)結(jié)合檢測(cè)軟件，對(duì)掃描數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)：

1、無(wú)線藍(lán)牙耳機(jī)殼體、充電倉(cāng)零部件整體偏差情況

2、無(wú)線藍(lán)牙耳機(jī)、充電倉(cāng)關(guān)鍵部位的3D尺寸偏差情況

通過(guò)三維掃描技術(shù)和檢測(cè)軟件，可以及時(shí)判斷耳機(jī)殼體部件的尺寸偏差，并標(biāo)注具體偏差位置，以實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)質(zhì)量控制。

2、耳機(jī)充電倉(cāng)外殼尺寸檢測(cè)

使用XTOM小幅面藍(lán)光三維掃描儀對(duì)耳機(jī)充電倉(cāng)殼體進(jìn)行三維掃描，高效獲取其精準(zhǔn)、完整的三維數(shù)據(jù)，并生成三維模型。

三維掃描數(shù)據(jù)模型通過(guò)與原有CAD數(shù)模文件比較，獲得精準(zhǔn)尺寸信息及偏差情況，對(duì)關(guān)鍵位置偏差進(jìn)行標(biāo)注，方便進(jìn)行糾正模具或者生產(chǎn)中的缺陷，及時(shí)反饋到模具設(shè)計(jì)和加工中。

三維掃描技術(shù)結(jié)合檢測(cè)軟件，對(duì)藍(lán)牙耳機(jī)進(jìn)行3D尺寸檢測(cè)的方法，兼?zhèn)淞藬?shù)字化存檔的直觀可視性，可節(jié)約生產(chǎn)成本，提高制造效率，在實(shí)際品質(zhì)管理和生產(chǎn)制造工作中具有良好的應(yīng)用效果。

新拓三維XTOM小幅面藍(lán)光三維掃描儀，適用于3C電子注塑產(chǎn)業(yè)生產(chǎn)鏈中的注塑件檢測(cè)、注塑模具檢測(cè)環(huán)節(jié)，通過(guò)全尺寸的三維掃描數(shù)據(jù)，將產(chǎn)品的質(zhì)量缺陷可視化呈現(xiàn)，從而提升注塑成型過(guò)程和注塑產(chǎn)品的檢測(cè)效率。