三坐標(biāo)測(cè)量精度高，適合測(cè)量高公差的機(jī)加工零件及中小型零部件。三坐標(biāo)能夠測(cè)量的特征多樣。但由于是單點(diǎn)測(cè)量方式，對(duì)工件表面特征要求較嚴(yán)格，對(duì)于異形件和大型件等檢測(cè)難度高，耗時(shí)較長(zhǎng)。

解決傳統(tǒng)測(cè)量的難題

通過(guò)接觸、點(diǎn)線測(cè)量

通過(guò)逐點(diǎn)接觸式進(jìn)行測(cè)量的測(cè)量?jī)x，無(wú)法觀察整個(gè)樣品的連續(xù)凹凸情況。難以測(cè)量自由曲面及材質(zhì)柔軟的測(cè)量目標(biāo)物。

速度慢，無(wú)法輕松進(jìn)行全尺寸檢測(cè)

要進(jìn)行設(shè)置及定位，不僅需要對(duì)探針及焦點(diǎn)進(jìn)行調(diào)整，而且還需要用夾具進(jìn)行固定等準(zhǔn)備。根據(jù)測(cè)量目標(biāo)物不同，選擇不同的夾具。要求測(cè)量人員具備較強(qiáng)的專業(yè)知識(shí)。

無(wú)法對(duì)整個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行比較

在進(jìn)行 CAD 比較時(shí)費(fèi)時(shí)費(fèi)力。此外，在良品判定方面，只能針對(duì)測(cè)量結(jié)果（公差）判斷是否為良品，無(wú)法通過(guò)形狀比較來(lái)確定良品和不良品的區(qū)分。

新拓三維XTOM-MATRIX系列計(jì)量級(jí)藍(lán)光三維掃描儀，在掃描精度和細(xì)節(jié)上都非常出色，它由光柵投影設(shè)備及兩個(gè)工業(yè)級(jí)的CCD 相機(jī)所構(gòu)成，通過(guò)光柵投影在待測(cè)物面上，并加以粗細(xì)變化及位移，計(jì)量級(jí)藍(lán)光三維掃描儀配工業(yè)相機(jī)采集的圖像通過(guò)點(diǎn)云拼接及數(shù)據(jù)優(yōu)化，即可得知待測(cè)物的3D外型。

非接觸、360 度全周掃描

單幅獲取數(shù)百萬(wàn)甚至上千萬(wàn)點(diǎn)的形貌數(shù)據(jù)。掃描轉(zhuǎn)臺(tái) 360°旋轉(zhuǎn)，無(wú)死角地獲取全周真實(shí) 3D 數(shù)據(jù)。

速度快，任何人都能輕松操作

單幅掃描時(shí)間＜1秒，每秒鐘即可獲取數(shù)百萬(wàn)點(diǎn)，放置樣品后，只需單擊畫面上的測(cè)量執(zhí)行按鈕，即可配合掃描轉(zhuǎn)臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)掃描。任何人都能輕松操作

直觀地進(jìn)行整體比較

采用計(jì)量級(jí)藍(lán)光三維掃描儀，任何人都可輕松地對(duì)整個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行比較。通過(guò)直觀的界面和比較差分值的整體形狀顏色顯示，還可輕松地對(duì)試制時(shí)的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)，以及檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的良品不良品進(jìn)行比較。