系統(tǒng)介紹
XTDIC-Micro顯微應用測量系統(tǒng)——光學顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級精度測量需求。
三維數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）具有準確性、穩(wěn)健性和易用性的特點，已被廣泛應用于應變測量。但是，對于需要高放大倍數(shù)的測量樣品，3D測量仍很難達到測量需求，這主要是由于3D測量缺乏具有足夠景深的光學元件，無法從不同視角獲取3D分析所需的兩張高放大率圖像。XTDIC-Micro彌補了傳統(tǒng)設備無法進行微小物體變形測量的不足，成為微觀尺度領域變形應變測量的一個有力工具。
技術(shù)優(yōu)點
- 獲得全場的三維坐標、位移、應變數(shù)據(jù)
- 測量結(jié)果三維顯示
- 適用于任何材料
- 快速、簡單、高精度的系統(tǒng)標定
- 測量幅面可自由調(diào)節(jié)：從1~10mm的范圍
- 應變測量范圍：從最小0.01%到大于500%的范圍
- 靈活易用的觸發(fā)功能
應用范圍
- 微觀形貌、應變分析（微米級、納米級）
- 材料試驗（楊氏模量、泊松比、彈塑性的參數(shù)性能）
- 應變計算、彈性評估、組件尺寸測量、非線性變化的檢測；
- 先進材料（CFRP、木材、內(nèi)含PE的纖維、金屬泡沫、橡膠等）
- 均勻和非均勻材料變形過程中的行為分析
- 各種同性和各種異性變性特征
- 零部件試驗（測量位移、應變）
- 微尺度動態(tài)應變測量，如疲勞試驗；
- 生物力學（骨骼、肌肉、血管等）
- 斷裂力學性能
- 非線性變化檢測
技術(shù)參數(shù)
