產(chǎn)品規(guī)格


藍(lán)光技術(shù)
XTOM藍(lán)光三維掃描儀采用藍(lán)光窄域波長(zhǎng)投影技術(shù),掃描時(shí)CCD只接受藍(lán)光波長(zhǎng)光線,避免了環(huán)境光干擾,獲取精確的測(cè)量數(shù)據(jù)。采用高亮度光源測(cè)頭,即使是表面品質(zhì)不佳的工件也可快速測(cè)量。

自行監(jiān)控機(jī)制
XTOM藍(lán)光三維掃描儀在測(cè)量過程中,可識(shí)別環(huán)境條件的變化,并進(jìn)行相應(yīng)補(bǔ)償。并通過不斷監(jiān)測(cè)校準(zhǔn)狀態(tài)、拼接精度、環(huán)境變化和位移變化,以確保測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性和準(zhǔn)確性。

自動(dòng)拼接
XTOM藍(lán)光三維掃描儀支持多種自動(dòng)拼接方式。測(cè)量完成后,三維數(shù)據(jù)偏差以色譜圖樣顯示,結(jié)果一目了然。


非接觸式工業(yè)藍(lán)光測(cè)量
XTOM藍(lán)光三維掃描儀是一款高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),專為工業(yè)級(jí)三維數(shù)字化檢測(cè)而研發(fā)制造,適用于工業(yè)檢測(cè)的全流程數(shù)字化處理。
XTOM藍(lán)光三維掃描儀具有高精度的細(xì)節(jié)測(cè)量性能和工業(yè)級(jí)的穩(wěn)定性,適用于各種嚴(yán)苛工業(yè)環(huán)境下的高精度數(shù)據(jù)測(cè)量。
迅速獲得最佳數(shù)據(jù)結(jié)果
采用高性能的硬件模塊以及功能強(qiáng)大的三維重建算法,不論用戶經(jīng)驗(yàn)如何,XTOM藍(lán)光三維掃描儀始終可實(shí)現(xiàn)精確測(cè)量,同時(shí)提供高分辨率和可追蹤數(shù)據(jù)結(jié)果。三維模型細(xì)節(jié)分辨率高,滿足特征線、半徑、切邊和孔樣等檢測(cè)需求。


內(nèi)置三維攝影測(cè)量(XTDP)
XTOM藍(lán)光三維掃描儀內(nèi)置三維攝影測(cè)量(XTDP)系統(tǒng),能有效提升全局測(cè)量拼接定位精度,精度最高可達(dá)正負(fù)0.015mm/m

自動(dòng)化應(yīng)用
XTOM藍(lán)光三維掃描儀可集成多種型號(hào)自動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)、全自動(dòng)關(guān)節(jié)臂使用,對(duì)大型批量化部件進(jìn)行高精度自動(dòng)化測(cè)量
XTOM藍(lán)光三維掃描儀基于高精度算法強(qiáng)大軟件,界面簡(jiǎn)潔友好,操作便捷,可滿足質(zhì)量檢測(cè)及逆向工程應(yīng)用要求。

三維檢測(cè)模塊
XTOM藍(lán)光三維掃描儀自帶三維檢測(cè)模塊,將實(shí)際數(shù)據(jù)與理論模型進(jìn)行對(duì)齊,以色譜形式顯示3D偏差,可分析任一點(diǎn)偏差,并輸出詳細(xì)的檢測(cè)報(bào)告。

自動(dòng)拼接
XTOM藍(lán)光三維掃描儀軟件支持基于標(biāo)志點(diǎn)、特征拼接和基于轉(zhuǎn)臺(tái)等多種拼接方式,滿足多種工況條件下物體的掃描。

雙向光柵掃描
XTOM藍(lán)光三維掃描儀通過橫向和豎向兩次多頻相移編碼光柵投射,有效保證高曲率區(qū)域(如棱邊)的測(cè)量精度。

大幅面三維掃描儀
大幅面三維掃描儀通過投射較小的廣角結(jié)構(gòu)光發(fā)生器,可以輕松完成大型工件掃描檢測(cè)任務(wù),例如發(fā)動(dòng)機(jī)制造、汽車制造領(lǐng)域的零件測(cè)量。

小幅面三維掃描儀
小幅面三維掃描儀,專為小型、設(shè)計(jì)復(fù)雜且精度要求高的零部件研發(fā),精確度高、細(xì)節(jié)豐富,常用于葉片、模具、3C注塑、鍛鑄造件的質(zhì)量檢測(cè)。
服務(wù)熱線:0755-8666 5401
郵 箱:market@xtop3d.com
總部地址:深圳市南山區(qū)西麗街道高新北一道88號(hào)奧比科技大廈11樓

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